步入式老化試驗房由房體結構、控製係統、風道係統等組成。由溫度控製器采集到試驗室內部溫度信號，發出指令使接觸器、固態繼電器等元器件相互配合來控製發熱管、電能轉化為熱能使空氣加熱；然後通過風機將熱空氣傳送至室內從而使溫度升高，一般采用“下出上吸”的送風方式；當溫度到達平衡點後利用PID自動調節技術調整固態繼電器輸出頻率達到恒溫的目的。老化房實際溫度高於目標設定值時超溫排風機開啟將部分熱空氣排出室外，使試驗室內的加熱和熱散失達到一種動態平衡，來達到恒溫目的。

步入式老化試驗房是針對高性能電子產品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環境測試的設備。電子產品在生產製造時，因設計不合理、原材料或工藝措施方麵的原因引起產品的質量問題有兩類，一是產品的性能參數不達標，生產的產品不符合使用要求；二是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發現，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如矽片表麵汙染、組織不穩定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這種缺陷需要在元器件工作於額定功率和正常工作溫度下運行一千個小時左右才能全部被激活（暴露）。顯然，對每隻元器件測試一千個小時是不現實的，所以需要對其施加熱應力和偏壓，例如進行高溫功率應力試驗，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產品施加熱的、電的、機械的或多種綜合的外部應力，模擬嚴酷工作環境，消除加工應力和殘餘溶劑等物質，使潛伏故障提前出現，盡快使產品通過失效浴盆特性初期階段，進入高可的穩定期。